Ux-720精密涂層分析儀X射線熒光光譜儀是專門為金屬合金、鋁型材、塑料等材料的涂層分析和達克羅涂層分析而設計的普及型機型，為三重射線保護系統。人性化的操作界面；華為VisualFp基本參數法分析軟件可用于盲測(即無需標樣校準)，以測試客戶樣品的涂層厚度和分析基材成分，降低客戶購買標樣(特別是特殊樣品)的成本。精心設計的開放式工作曲線功能，特別適用于工藝復雜的工廠對涂布、鍍膜的過程控制。
Ux-720的特點
1.預設多條工作曲線，覆蓋銅基體、鐵基體、鋅基體等多種基體類型的常見涂層，可滿足用戶對常規涂層測量的要求；
2.華為VisualFp基礎參數分析軟件，同時分析涂層的厚度和基體與涂層的成分含量，實用價值遠超客戶想象；
3.人性化的軟件界面和操作方法，采用獨特的圖形顯示技術，方便直觀；結合大量操作經驗優化操作步驟，非常方便用戶；
4.完善的安全聯鎖功能:配合硬件電路的保護措施，在發生不安全操作時自動切斷X射線，確保操作者不受X射線傷害；
5.數據管理:數據庫支持的報表生成、查詢、打印等功能，非常方便企業管理；
6.智能軟件保護，避免因操作不當對光譜儀造成損壞，延長儀器使用壽命；
7.數據自動保存:樣品測試后的所有數據將自動保存，測試結果可追溯；
8.穩定性自檢功能:可立即自動檢測儀器當前的穩定性；
9.軟件具有多項測試結果的統計功能，管理起來非常方便。
x射線和β射線法為非接觸式無損測量，測量范圍小。x射線法可以測量極薄的涂層、雙層涂層和合金涂層。β射線法適用于原子序數大于3的涂層和鍍層的測量。電容法僅在測量薄導體的絕緣涂層厚度時使用。
Ux-720的性能優勢
1.VisualFp基本參數分析軟件可以測試樣品的涂層厚度，無需標準樣品校準。
2.它不僅可以測試金屬涂層，還可以測量合金涂層、鋁合金涂層、玻璃涂層和塑料涂層，開創了XRF測量涂層厚度的綜合技術。
3.軟件可以根據樣品的材質、形狀、大小自動設置光管的功率，不僅可以延長光管的使用壽命，還可以充分發揮探測器的性能，大大提高測量精度。
4.業界提供了一個開放的工作曲線校準平臺，可以為每個用戶量身定制涂層分析的工作曲線。
5.三重射線防護(軟件、硬件、迷宮設計)，確保操作人員的人身安全和意外操作造成的輻射傷害。
6.微調儀器外部樣品的設計，以減少和防止樣品放置后關閉樣品蓋引起的振動引起的測試位置變化而導致的測試不準確。
7.測試報告的輸出格式(Excel、PDF等。)可根據用戶要求定制，符合工廠的各種統計和格式要求。
8.行業專家達克羅涂層工藝厚度分析的軟件方法，完全替代金相顯微鏡技術在該行業的應用。
9.軟件對測試結果進行多次統計分析。
10.行業專家不僅可以測試涂層厚度，還可以同時分析基底和涂層成分的XRF。