使用半導體探測器和多道脈沖幅度分析器可以提高分辨率，并且可以用微處理器同時測定樣品中的o-sn元素，分析速度快。
Ux-2100 Plus開放式工作曲線
符合國家標準(GB/T 3352-2016)的要求。如果有特殊要求，使用標準材料制作工作曲線，并處理其他樣品的測試。測試條件也是開放的，用于設置相應樣品的測試要求。
元素的原子受到高能輻射激發，引起內部電子躍遷，發出某些特殊波長的X射線。根據莫斯勒定律，熒光X射線的波長λ與元素的原子序數Z有關，數學關系如下:
λ=K(Z？s)？二
其中k和s是常數。
根據量子理論，X射線可以看作是由一個量子或光子組成的粒子流，每個光的能量如下:
E=hν=h C/λ
其中e為X射線光子的能量，單位為keV；h是普朗克常數；ν是光波的頻率；c是光速。
因此，只要測量熒光X射線的波長或能量，就可以知道元素的種類，這是熒光X射線定性分析的基礎。此外，熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系，據此可以進行元素的定量分析。
Ux-2100 Plus內置工作曲線
標準配置應滿足RoHS規定中六種元素(鉛(Pb)、汞(Hg)、鎘(Cd)、總鉻(Cr)、總溴(Br)、總氯(Cl)的工作曲線。比如塑料材料中聚乙烯(PE)、聚氯乙烯(PVC)、工程塑料(ABS)的工作曲線，還有金屬材料中銅合金(Cu)、鋁合金(Al)、鐵合金(Fe)、錫基合金(Sn)的工作曲線。它全面涵蓋了電子電氣行業的主要測試要求。
★塑料中銻(Sb)的工作曲線(可選)
★塑料中錫(Sn)的工作曲線(可選)。