x射線和β射線法為非接觸式無損測量，測量范圍小。x射線法可以測量極薄的涂層、雙層涂層和合金涂層。β射線法適用于原子序數大于3的涂層和鍍層的測量。電容法僅在測量薄導體的絕緣涂層厚度時使用。
Ux-720儀器標配設備參數。
1.計算機
CPU:英特爾雙核內存:2G
硬盤:500G顯示器:19英寸
2.噴墨式打印機
彩色噴墨打印機
3、儀器附件及技術數據
50片測試膠片
五個保險管
保修卡。
批準證書
儀器操作手冊
輻射安全檢查報告
涂層厚度的測量方法主要有:楔形切割法、光切法、電解法、厚度差測量法、稱重法、X射線熒光法、β射線背散射法、電容法、磁性測量法和渦流測量法。這些方法的前五種都是破壞性檢測，比較繁瑣，速度慢，大多適合抽樣檢驗。
Ux-720精密涂層分析儀X射線熒光光譜儀是專門為金屬合金、鋁型材、塑料等材料的涂層分析和達克羅涂層分析而設計的普及型機型，為三重射線保護系統。人性化的操作界面；華為VisualFp基本參數法分析軟件可用于盲測(即無需標樣校準)，以測試客戶樣品的涂層厚度和分析基材成分，降低客戶購買標樣(特別是特殊樣品)的成本。精心設計的開放式工作曲線功能，特別適用于工藝復雜的工廠對涂布、鍍膜的過程控制。