x射線和β射線法為非接觸式無損測量，測量范圍小。x射線法可以測量極薄的涂層、雙層涂層和合金涂層。β射線法適用于原子序數大于3的涂層和鍍層的測量。電容法僅在測量薄導體的絕緣涂層厚度時使用。
Ux-720的性能優勢
1.VisualFp基本參數分析軟件可以測試樣品的涂層厚度，無需標準樣品校準。
2.它不僅可以測試金屬涂層，還可以測量合金涂層、鋁合金涂層、玻璃涂層和塑料涂層，開創了XRF涂層厚度測量的綜合技術。
3.軟件可以根據樣品的材質、形狀、大小自動設置光管的功率，不僅可以延長光管的使用壽命，還可以充分發揮探測器的性能，大大提高測量精度。
4.業界提供了一個開放的工作曲線校準平臺，可以為每個用戶量身定制涂層分析的工作曲線。
5.三重射線防護(軟件、硬件、迷宮設計)，確保操作人員的人身安全和意外操作造成的輻射傷害。
6.微調儀器外部樣品的設計，以減少和防止樣品放置后關閉樣品蓋引起的振動引起的測試位置變化而導致的測試不準確。
7.測試報告的輸出格式(Excel、PDF等。)可根據用戶要求定制，符合工廠的各種統計和格式要求。
8.行業專家達克羅涂層工藝厚度分析的軟件方法，完全替代金相顯微鏡技術在該行業的應用。
9.軟件對測試結果進行多次統計分析。
10.行業專家不僅可以測試涂層厚度，還可以同時分析基底和涂層成分的XRF。
Ux-720高準平臺
在加載試驗平臺上，微調裝置在儀器的右側，通過旋轉按鈕來調整樣品的移動，移動范圍為X軸15 mm，Y軸15mm。結合260萬像素的高清CCD，對測試樣品進行定位，防止樣品放置后關閉樣品蓋造成的震動，使測試位置發生變化，測試不準確。
隨著科技的發展，特別是近年來微機技術的引入，X射線涂層測厚儀的使用向著小型化、智能化、多功能、高精度和實用化邁進了一步。測量的分辨率達到了0.1微米，精度可以達到1%，有了很大的提高。由于其應用范圍廣、測量范圍寬、操作簡單、價格低廉，在工業和科研中得到廣泛應用。