涂層厚度測量已成為加工工業和表面工程質量檢驗的重要組成部分，是產品達到優良質量標準的必要手段。為使產品國際化，我國出口商品和涉外項目中對涂層厚度有明確要求。
x射線和β射線法為非接觸式無損測量，測量范圍小。x射線法可以測量極薄的涂層、雙層涂層和合金涂層。β射線法適用于原子序數大于3的涂層和鍍層的測量。電容法僅在測量薄導體的絕緣涂層厚度時使用。
Ux-720濾光系統和準直系統
過濾系統采用金屬箔過濾技術，五種不同材質的過濾器自動切換。
準直系統采用微孔準直技術，0.5mm、φ 1 mm、φ 2 mm、φ 4 mm四種孔徑自動切換。
濾光系統和準直系統自由組合，達到測試效果。
Ux-720檢測系統
功能:檢測樣品的特征X射線，對采集的信號進行處理，并將處理結果傳送給計算機。
型號:Si-PIN X-123(美國進口)
是窗戶嗎？？？:1毫米(0.0254毫米)
分辨率:145±5eV
系統峰背比:≥ 6200/1
能量響應范圍:1千電子伏-40千電子伏
推薦計數率:5000cps