使用半導體探測器和多道脈沖幅度分析器可以提高分辨率，并且可以用微處理器同時測定樣品中的o-sn元素，分析速度快。
X射線熒光光譜儀由激發源(X射線管)和檢測系統組成。X射線管產生入射X射線(初級X射線)，激發被測樣品并產生X射線熒光(次級X射線)，檢測器檢測X射線熒光。
光源激發樣品產生的特征X射線直接進入探測器，探測器將光信號轉換成電信號，主放大器輸出的脈沖傳輸到ADC(模數轉換器)，ADC將具有脈沖幅度的模擬信號轉換成數字信號，產生的數字信號作為與MCA連接的地址，然后根據這些地址檢測不同脈沖即X射線的能量，記錄相應的脈沖數。
Ux-2100 Plus開放式工作曲線
符合國家標準(GB/T 3352-2016)的要求。如果有特殊要求，使用標準材料制作工作曲線，并處理其他樣品的測試。測試條件也是開放的，用于設置相應樣品的測試要求。