Ux-720探測系統
功能：對樣品特征X射線進行探測，將采集來的信號進行數據處理，并將處理結果傳輸給計算機。
類型：Si-PIN X-123(美國原裝進口)
Be窗???：1mil(0.0254mm)
分辨率：145±5eV
系統峰背比：≥ 6200/1
能量響應范圍：1keV — 40keV
推薦計數率：5000cps
隨著技術的日益進步，特別是近年來引入微機技術后，采用X射線鍍層測厚儀 向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米，精度可達到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是工業和科研使用廣泛的測厚儀器。
鍍層厚度測量已成為加工工業、表面工程質量檢測的重要環節，是產品達到優等質量標準的必要手段。為使產品國際化，我國出口商品和涉外項目中，對鍍層厚度有了明確要求。
Ux-720高效三維散熱系統，大幅度提供儀器的可靠性、穩定性。三重射線防護系統（軟件、硬件、迷宮式設計），開蓋測試自動警示系統。