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  • 博眾半導體 全自動光學檢測 高速高精度AOI檢測機

     
     
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    品牌 博眾半導體
    過期 長期有效
    更新 2023-08-04 16:36
     

    Jason

    個人會員第3年
    聯系電話:18021462023 所在區域:江蘇 蘇州市 經營范圍:
    企業信息認證
    詳細說明

    IR9721系列利用深度學習算法和2D/3D測量技術,提供高性能和全自動的光學檢測,以確定不同類型和尺寸的器件的封裝質量。

    產品特點

    高精度:3D精度:±7.5um @3σ;支持150um BGA Balls;支持Surface dent檢測;支持色彩檢測

    高兼容性:兼容BGA,QFN,LGA,QFP,SOP等多種封裝形式;覆蓋3*3mm-120*120mm芯片尺寸

    高擴展性: 支持Tray to Tray/Tray to Reel

    高產能:UPH up to 40k

    設備參數:

    設備型號

     IR9721

    出入料Input & Output Media

    Tray to Tray/Tray to Reel

    芯片尺寸Device Size

    3x3 - 120x120mm

    球徑Minimum Ball Size

    150um

    表面檢測能力

    Surface defect capability

    50x50um

    3D精度3D rep/acc

    7.5um

    20um球高檢測

    Low Ball Inspection(Minimum height 20um)

    Avaliable

    表面凹坑檢測

    Dent/Bulge Inspection(measure height/depth)

    Avaliable(Bottom only)

    分選Sorting

    1x4 Head

    色彩檢測(選配)

    Color Camera(option)

    Avaliable

    芯片厚度檢測(option)

    Component Height Measurement(option)

    Avaliable

    二維碼讀取

    2D Code Reading

    Avaliable

    字符識別OCR

    Avaliable

    裂紋檢測Crack Inspection

    15um width

    UPH

    3500(PKG35X35)

    14K(PKG5*5 QFN 5S)

    40K(PKG5*5 QFN)


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