什么是CDM？
CDM(Charged Device Model)是指放電模式中IC因為磨擦輸送帶或其它因素而經過一個電場時在IC內部累積了靜電，但在靜電累積的過程中IC并未被損傷。該帶有靜電的IC在制造和裝配過程中，當其管腳碰觸到地面時，IC內部的靜電便會經由樣品的管腳自IC內部流出來，而造成了放電的現象。
不同于HBM（Human-Body Model）和MM（Machine Model），它是由內到外的放電現象，CDM 模型的放電電流上升時間極短，電流峰值也更高。
哪些因素對CDM測試有影響呢？
1、濕度對于測試結果的影響
在日常測試中我們發現，濕度對于測試結果起到了決定性的因素，目前大多數CDM測試我們都參考JS002的標準，標準中要求測試腔體的濕度不應超過30% RH。我們分別實驗了在腔體58％RH和5％RH兩個濕度條件下各抓取20次放電波形來做了對比，發現濕度在58％RH的測試條件下放電波形的重復性較差且放電的峰值電流也相應降低，濕度在5％的測試條件下抓取的放電波形重復性較好，同等電壓下峰值電流也更高；我們增加了35％RH和10％RH這兩個不同濕度的峰值電流對比，在10％RH的條件下峰值電流也更高。
影響CDM測試結果的原因，濕度只是其中的一個方面，還有測試標準、接觸電阻、充電時間(針對大電容IC更敏感)、芯片放置角度等幾個方面。
2、測試標準
CDM測試標準沒有統一之前，測試標準較多，如JESD22-C101、AEC Q100-011，ANSI/ESD S5.3.1-2009等。不同的測試標準對于放電波形的要求不同，主要差異包括：場板電介質厚度，波形驗證參數，用于驗證系統的驗證模塊，示波器帶寬等，導致測試結果無法對齊。為解決這一問題，目前行業標準已經統一硬件規則，現在測試CDM的放電波形行業多數參考JS-002標準。
3、接觸電阻
由于樣品放置時間長，引腳表面會形成氧化、沾污，此外Pogo Pin 因靜電吸附等沾染毛絮、灰塵顆粒都會影響接觸放電。如條件允許，建議使用前對樣品及Test Fixture進行清潔(一般是異丙醇)后測試，但是，這又會涉及到不同有機溶劑對樣品材料的腐蝕與置換溶解問題，需要小心處理。
4、充電時間
CDM現行有效標準均為Field-Induced-Charge模式，類似一個電容器的充電(測試機就是充電的電源，測試芯片就是這顆電容器)，需要讓被測芯片達到預定的電壓值，根據芯片等效電容的不同，需要一定的時間，此時間會影響樣品是否能達成完全充電。實驗室需要定期依據不同芯片的等效電容，選定合適的時間，以便達到“完全”Charge的目標，否則會影響測試結果。
5、樣品放置角度
樣品放置角度問題決定了被測芯片的測試電場中的等效電容。一般來說，被測芯片以“Dead Bug”的方式來放置，其目的是為了標準封裝定義的測試方式方法，提升測試的可重復性。隨著集成電路大規模發展，各種“異性”封裝的大量出現，這使得測試實驗室面臨新的挑戰，如何得到更加符合實際“Mission Profile”的測試方法？這個需要工程師做大量試驗來選擇合適方法。另外，如車規級MCM出現，對于Board Level CDM也面臨重大挑戰。
廣電計量可滿足JESD、AEC-Q，ANSI/ESD、MIL等標準的測試要求，擁有業界領先的專家團隊及先進的失效分析設備，為IC企業提供ESD測試方案，同時，還可為客戶提供芯片的MA、RA、FA等檢測分析服務。
