TDR阻抗測試儀是一種利用時域反射（Time Domain Reflectometry）技術來測量傳輸線（如高速PCB走線、電纜等）特性阻抗分布和阻抗不連續點位置的儀器。它通過向被測線纜或走線注入高速階躍信號，并分析返回的反射波形來判斷哪里阻抗偏離目標值。例如國內領先的PCB測量儀器、智能檢測設備等專業解決方案供應商，Bamtone班通自研推出的Bamtone H系列，有高達20 G的帶寬，可用于高速PCB設計與生產中的阻抗控制與抽檢。
一般來說，TDR阻抗測試儀和網絡分析儀都能看“阻抗”和不連續性，但定位和擅長方向不同：前者是時域反射工具，直觀看“哪里有問題”；后者是頻域S參數儀器，精確表征“整個網絡在各頻點的傳輸特性”。兩者之間測量原理和用途有差異。
測量原理：
TDR阻抗測試儀 ：發出一個很快的階躍/脈沖，在時域觀察反射波形，得到阻抗隨時間/距離的變化。主要看反射，適合做故障定位、阻抗連續性、走線/線纜分布阻抗等。
網絡分析儀（矢量網絡分析儀） ： 發出掃頻連續波，在頻域測量S參數（S11、S21等），得到幅度和相位隨頻率的響應。既能看反射（回波損耗、VSWR），也能看傳輸（插入損耗、串擾），適合完整射頻/高速鏈路特性分析。
主要用途：
TDR阻抗測試儀：
PCB走線/線纜特性阻抗測量與分布阻抗曲線（單端50 Ω、差分100 Ω等）。
查找開路、短路、阻抗突變，明確“在多遠位置出現不連續”。
生產線上的快速判定和抽檢，操作相對簡單。
網絡分析儀：
射頻器件、濾波器、連接器、高速通道等的寬帶插入損耗、回波損耗、群時延、眼圖等綜合指標。
精確S參數建模（仿真用Touchstone文件）、器件匹配網絡設計與優化。
需要高精度、寬動態范圍的高頻/微波測試。
測量結果與直觀性：
TDR阻抗測試儀：輸出是“阻抗/反射系數 vs 時間或距離”的曲線，非常直觀地看到每個不連續點位置及類型（電容性/電感性等）。 不直接給出頻域指標（如在某個GHz下的回波損耗），需要額外處理才能得到。
網絡分析儀：原生給出“幅度/相位 vs 頻率”的曲線，更適合評估在目標工作頻段內的性能（如1–10 GHz）。帶時域功能的網絡分析儀可以通過逆傅里葉變換生成類似TDR的時域波形，但本質仍由頻域數據變換而來。
