金相顯微鏡是專門用于觀察金屬和合金微觀組織結構的光???學儀器。簡單來說，它就像是材料科學家的“眼睛”，能將金屬材料放大五十到一千倍，讓我們看清肉眼無法分辨的晶粒、夾雜物和裂紋。
作為國內 的PCB測量儀器、智能檢測設備等專業解決方案供應商，班通自研推出了Bamtone M系列金相顯微鏡，具備高精度成像，支持明場、暗場、偏光、微分干涉（DIC）等多種觀察方式，滿足不同材料的分析需求，以及支持圖像采集、存儲、測量和分析等功能，深受市場歡迎。為了讓你更地了解金相顯微鏡，我為你整理了它的核心構造、主要觀察方式以及應用領域，以便初步掌握知識。
核心原理與構造
金相顯微鏡主要利用反射光（落射照明）來觀察不透明的金屬樣品。它不是由單個透鏡組成，而是由兩級透鏡（物鏡和目鏡）進行兩次放大：
· 物鏡：靠近被觀察物體，將物體放大形成一個倒立的實像。
· 目鏡：靠近眼睛，將物鏡形成的實像再次放大，形成我們看到的虛像。
為了獲得清晰的圖像，現代金相顯微鏡通常采用無限遠光學系統，并配備消色差或復消色差物鏡來校正像差。
主要觀察模式
不同的觀察模式能揭示材料的不同特征：
· 明場（BF）： 常用，光線直接照射，適合觀察常規組織（如珠光體、鐵素體）。
· 暗場（DF）：利用光的衍射，適合觀察細小劃痕、裂紋和非金屬夾雜物。
· 偏光（POL）：用于鑒別具有雙折射性的物質，如多相合金和礦物。
· 微分干涉（DIC）：利用光的干涉，能呈現出立體感極強的浮雕狀圖像，適合觀察微小的高度差。
主要應用領域
· 質量檢測：檢查鋼材、合金的內部缺陷、氧化物、硫化物夾雜以及晶粒度大小。
· 工藝控制：監控鑄造、鍛造、熱處理（如退火、淬火）后的組織變化，優化生產工藝。
· 失效分析：當零件斷裂或失效時，通過觀察斷口附近的微觀組織來尋找原因。
· 前沿研究：如半導體材料、液晶板、納米材料的微觀結構分析
